阻抗分析儀能在阻抗范圍和寬頻率范圍進行測量

　　隨著電子產(chǎn)品的輕薄短小及高速率，高帶寬，5G/6G甚至更高的工作頻率，促使電子元器件的尺寸也變得越來越小，工作頻率也越來越高。這對測試電子元器件的設(shè)備要求也要同時能滿足尺寸越來越小和頻率越來越高的要求。阻抗分析儀可以用來在高達3GHz的頻率范圍內(nèi)測量無源器件的特性，除此之外，工程師們更可以用它來測量小至01005尺寸的 SMD器件的特性。

　　阻抗分析儀具備高度、速度，且經(jīng)濟型多功能，能夠執(zhí)行一應(yīng)俱全的元件測試。可搭配DC Bias機型。人性化操作界面設(shè)計同步于國際趨勢，簡單操作快速導入產(chǎn)線。多項參數(shù)同時測試只需一次設(shè)定，一次同時顯示。高精密值的量測數(shù)據(jù)與的功效，為元件和材料不可或缺的測試儀器。阻抗分析儀可通過面板的BNC接頭來實現(xiàn)兩端，三端或四埠的連接以及可能的接地狀況.備有許多的可選附件以供不同的測試需要。

　　阻抗分析儀能在阻抗范圍和寬頻率范圍進行測量，它利用物體具有不同的導電作用，在物體表面加一固定的低電平電流時，通過阻抗計算出物體的各種器件、設(shè)備參數(shù)和性能優(yōu)劣。能夠以測量結(jié)果為基礎(chǔ)推測5種等效電路模式的常數(shù)。 而且，可以通過模擬功能，使用推測結(jié)果或者任意的常數(shù)來顯示頻率特性的理想值。 此外，使用比較器功能，還能夠確定測量結(jié)果是否在判定區(qū)域內(nèi)。